功率管外觀檢測(cè)解決方案
芯片外觀缺陷主檢測(cè)的主要檢測(cè)內(nèi)容：封裝體缺陷；印刷缺陷；管腳缺陷。
芯片外觀缺陷主檢測(cè)的主要檢測(cè)內(nèi)容：封裝體缺陷；印刷缺陷；管腳缺陷。
數(shù)字鎖相、頻率更寬、穩(wěn)定性好、響應(yīng)時(shí)間≤10ms
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非接觸式、數(shù)字感應(yīng)、體小量輕、操作便捷、穩(wěn)定性好
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光學(xué)篩選機(jī)，是專業(yè)視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備。采用機(jī)器視覺(jué)原理，通過(guò) CCD 圖像傳感器與圖像處理系統(tǒng)自動(dòng)辨別產(chǎn)品外觀缺陷，分選出合格與不合格件并統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)，具備自動(dòng)上料裝置，多視角檢測(cè)，360°全檢。 可檢多種物件，涵蓋尺寸、鍍層、壓傷等眾多檢測(cè)項(xiàng)目。 適用規(guī)格廣泛，檢測(cè)速度快、精度高。
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